电子与封装2021，Vol.21Issue(6)：80-88,9.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0604
电子器件自毁技术
Self-Destructing Methods for Electronics
周立彦 1朱思雄 1王剑峰1
作者信息
- 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡 214072
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摘要
关键词
器件自毁/瞬态电子/应力破坏/化学腐蚀/含能材料分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
周立彦,朱思雄,王剑峰..电子器件自毁技术[J].电子与封装,2021,21(6):80-88,9.
