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热固性环氧导电胶的失效机理分析

井津域 刘德喜 史磊 景翠 康楠

电子与封装2021,Vol.21Issue(7):62-70,9.
电子与封装2021,Vol.21Issue(7):62-70,9.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0711

热固性环氧导电胶的失效机理分析

Failure Mechanism of Thermosetting Epoxy Conductive Adhesive

井津域 1刘德喜 1史磊 1景翠 1康楠1

作者信息

  • 1. 北京遥测技术研究所,北京100094
  • 折叠

摘要

关键词

导电胶/可靠性/挥发/三维结构/银富集/氧化反应

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

井津域,刘德喜,史磊,景翠,康楠..热固性环氧导电胶的失效机理分析[J].电子与封装,2021,21(7):62-70,9.

基金项目

电子元器件领域工程核心产品研制项目(2009ZYHW0019) (2009ZYHW0019)

电子与封装

1681-1070

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