| 注册
首页|期刊导航|电子与封装|基板封装注塑中芯片断裂的有限元分析

基板封装注塑中芯片断裂的有限元分析

顾骁 宋健 顾炯炯 李全兵

电子与封装2021,Vol.21Issue(9):25-31,7.
电子与封装2021,Vol.21Issue(9):25-31,7.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0905

基板封装注塑中芯片断裂的有限元分析

Finite Element Analysis of Die Crack in Molding Process of Laminate Substrate-Based Package

顾骁 1宋健 1顾炯炯 1李全兵1

作者信息

  • 1. 江苏长电科技股份有限公司,江苏无锡214437
  • 折叠

摘要

关键词

基板封装/芯片断裂/注塑压力/有限元分析/阻焊层

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

顾骁,宋健,顾炯炯,李全兵..基板封装注塑中芯片断裂的有限元分析[J].电子与封装,2021,21(9):25-31,7.

电子与封装

1681-1070

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文