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厚栅氧PMOSγ射线剂量探测器芯片工艺优化研究

张玲玲 郭凤丽 石磊

电子与封装2021,Vol.21Issue(9):77-80,4.
电子与封装2021,Vol.21Issue(9):77-80,4.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0915

厚栅氧PMOSγ射线剂量探测器芯片工艺优化研究

Study on Process Optimization of Thick Gate Oxygen PMOS Gamma Ray Dose Detector Chip

张玲玲 1郭凤丽 1石磊1

作者信息

  • 1. 中科芯集成电路有限公司,江苏无锡214072
  • 折叠

摘要

关键词

PMOS/厚栅氧/阈值电压

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张玲玲,郭凤丽,石磊..厚栅氧PMOSγ射线剂量探测器芯片工艺优化研究[J].电子与封装,2021,21(9):77-80,4.

电子与封装

1681-1070

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