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纳米压痕法测定BGA焊球性能中的加载曲线研究

吴平 兰欣 王兴华 刘祥龙 谢国芳

电子元件与材料2021,Vol.40Issue(12):1221-1227,7.
电子元件与材料2021,Vol.40Issue(12):1221-1227,7.DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2021.0132

纳米压痕法测定BGA焊球性能中的加载曲线研究

Research on loading curve of BGA solder balls by nanoindentation

吴平 1兰欣 1王兴华 1刘祥龙 1谢国芳1

作者信息

  • 1. 山东大学 能源与动力工程学院, 山东 济南 250061
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摘要

关键词

BGA封装/纳米压痕法/有限元分析/Oliver-Pharr方法/焊球

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

吴平,兰欣,王兴华,刘祥龙,谢国芳..纳米压痕法测定BGA焊球性能中的加载曲线研究[J].电子元件与材料,2021,40(12):1221-1227,7.

基金项目

国家自然科学基金青年基金项目(11702160) (11702160)

山东省自然科学基金面上项目(ZR201702170418) (ZR201702170418)

电子元件与材料

OA北大核心CSCDCSTPCD

1001-2028

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