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LDO失效分析及改善

胡敏

电子与封装2022,Vol.22Issue(1):27-30,4.
电子与封装2022,Vol.22Issue(1):27-30,4.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0103

LDO失效分析及改善

LDO Failure Analysis and Countermeasure

胡敏1

作者信息

  • 1. 乐山无线电股份有限公司,四川乐山614000
  • 折叠

摘要

关键词

低压差线性稳压器/铜线焊接/漏电流失效,可靠性/ILD层裂纹

分类

信息技术与安全科学

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胡敏..LDO失效分析及改善[J].电子与封装,2022,22(1):27-30,4.

电子与封装

1681-1070

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