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SiC MOSFET栅极驱动电路研究综述

周泽坤 曹建文 张志坚 张波

电子与封装2022,Vol.22Issue(2):前插1-前插2,1-11,13.
电子与封装2022,Vol.22Issue(2):前插1-前插2,1-11,13.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0201

SiC MOSFET栅极驱动电路研究综述

Review of SiC MOSFET Gate Drivers

周泽坤 1曹建文 1张志坚 1张波1

作者信息

  • 1. 电子科技大学功率集成技术实验室,成都610054
  • 折叠

摘要

关键词

电磁干扰噪声/能量损耗/栅驱动/SiC MOSFET

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

周泽坤,曹建文,张志坚,张波..SiC MOSFET栅极驱动电路研究综述[J].电子与封装,2022,22(2):前插1-前插2,1-11,13.

基金项目

国家自然科学基金(62074028) (62074028)

电子与封装

1681-1070

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