电子与封装2022,Vol.22Issue(3):P.23-29,7.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0303
基于STM32F429的AD静态参数自动测试系统的设计与实现
陈恒江 1仲海东 1彭佳丽1
作者信息
- 1. 无锡中微爱芯电子有限公司,江苏无锡214072
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摘要
关键词
STM32F429/AD静态参数/自动测试系统分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
陈恒江,仲海东,彭佳丽..基于STM32F429的AD静态参数自动测试系统的设计与实现[J].电子与封装,2022,22(3):P.23-29,7.