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基于STM32F429的AD静态参数自动测试系统的设计与实现

陈恒江 仲海东 彭佳丽

电子与封装2022,Vol.22Issue(3):P.23-29,7.
电子与封装2022,Vol.22Issue(3):P.23-29,7.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0303

基于STM32F429的AD静态参数自动测试系统的设计与实现

陈恒江 1仲海东 1彭佳丽1

作者信息

  • 1. 无锡中微爱芯电子有限公司,江苏无锡214072
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摘要

关键词

STM32F429/AD静态参数/自动测试系统

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

陈恒江,仲海东,彭佳丽..基于STM32F429的AD静态参数自动测试系统的设计与实现[J].电子与封装,2022,22(3):P.23-29,7.

电子与封装

1681-1070

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