电子与封装2022，Vol.22Issue(3)：P.30-34,5.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0306
基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试
唐彩彬1
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- 1. 中科芯集成电路有限公司,江苏无锡214072
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摘要
关键词
ATE/Chroma 3380P/USB PD/晶圆测试分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
唐彩彬..基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试[J].电子与封装,2022,22(3):P.30-34,5.
