电子与封装2022，Vol.22Issue(3)：P.35-40,6.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0311
基于J750Ex-HD的32位MCU芯片在线测试技术
摘要
关键词
微控制单元/ATE测试系统/功能测试/修调测试/ADC测试分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
余永涛,王小强,余俊杰,陈煜海,罗军..基于J750Ex-HD的32位MCU芯片在线测试技术[J].电子与封装,2022,22(3):P.35-40,6.基金项目
广东省重点领域研发计划(2018B010142001)。 （2018B010142001）
