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边界扫描寄存器电路的性能分析和优化设计

孙诚 邵健

电子与封装2022,Vol.22Issue(3):P.60-68,9.
电子与封装2022,Vol.22Issue(3):P.60-68,9.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0304

边界扫描寄存器电路的性能分析和优化设计

孙诚 1邵健1

作者信息

  • 1. 中电科申泰信息科技有限公司,江苏无锡214000
  • 折叠

摘要

关键词

边界扫描链/边界扫描寄存器/性能分析/优化设计/仿真/数据流

分类

信息技术与安全科学

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孙诚,邵健..边界扫描寄存器电路的性能分析和优化设计[J].电子与封装,2022,22(3):P.60-68,9.

电子与封装

1681-1070

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