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肖特基二极管高温反向偏置失效分析与改善

胡敏 彭俊睿

电子与封装2022，Vol.22Issue(3)：P.90-94,5.
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电子与封装2022，Vol.22Issue(3)：P.90-94,5.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0310

肖特基二极管高温反向偏置失效分析与改善

胡敏 1彭俊睿1

作者信息

  • 1. 乐山无线电股份有限公司,四川乐山614000
  • 折叠

摘要

关键词

高温反向偏置/可靠性/封装气密性/离子污染

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

胡敏,彭俊睿..肖特基二极管高温反向偏置失效分析与改善[J].电子与封装,2022,22(3):P.90-94,5.

电子与封装

1681-1070

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