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4H-SiC功率MOSFET可靠性研究进展

白志强 张玉明 汤晓燕 沈应喆 徐会源

电子与封装2022,Vol.22Issue(4):1-9,9.
电子与封装2022,Vol.22Issue(4):1-9,9.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0412

4H-SiC功率MOSFET可靠性研究进展

Research Progress on Reliability of 4H-SiC Power MOSFET

白志强 1张玉明 1汤晓燕 1沈应喆 1徐会源1

作者信息

  • 1. 西安电子科技大学微电子学院,西安 710071
  • 折叠

摘要

关键词

碳化硅/MOSFET/可靠性

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

白志强,张玉明,汤晓燕,沈应喆,徐会源..4H-SiC功率MOSFET可靠性研究进展[J].电子与封装,2022,22(4):1-9,9.

基金项目

国家重点研发计划(2020YFB0407800) (2020YFB0407800)

陕西省重点研发计划(2018ZDL-GY01-03,2020ZDLGY03-07) (2018ZDL-GY01-03,2020ZDLGY03-07)

电子与封装

1681-1070

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