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二极管玻璃封装机械裂纹的产生原因和改良措施研究

张雨林 高成

电子元件与材料2022,Vol.41Issue(4):P.387-391,5.
电子元件与材料2022,Vol.41Issue(4):P.387-391,5.DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2022.0139

二极管玻璃封装机械裂纹的产生原因和改良措施研究

张雨林 1高成2

作者信息

  • 1. 西南交通大学机械工程学院,四川成都611756
  • 2. 北京航空航天大学可靠性与系统工程研究所,北京100191
  • 折叠

摘要

关键词

玻封二极管/杜美丝/封接/开裂/失效分析

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张雨林,高成..二极管玻璃封装机械裂纹的产生原因和改良措施研究[J].电子元件与材料,2022,41(4):P.387-391,5.

电子元件与材料

OA北大核心CSTPCD

1001-2028

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