电子与封装2022，Vol.22Issue(5)：P.23-30,8.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0504
基于SSD控制器芯片测试平台转移及测试向量转换的方法
冯文星 1余山 1周萌 1柳炯1
作者信息
- 1. 赛迪工业和信息化研究院集团有限公司,江苏苏州215104
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摘要
关键词
ATE转移/测试向量转换/测试数据分析分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
冯文星,余山,周萌,柳炯..基于SSD控制器芯片测试平台转移及测试向量转换的方法[J].电子与封装,2022,22(5):P.23-30,8.
