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多芯片组件导电胶接触电阻增大案例分析

张建 王道畅 金家富 董玉 李静

电子与封装2022,Vol.22Issue(6):39-41,3.
电子与封装2022,Vol.22Issue(6):39-41,3.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0609

多芯片组件导电胶接触电阻增大案例分析

Case Analysis of Increased Contact Resistance of Conductive Adhesives for Multi-Chip Module

张建 1王道畅 1金家富 1董玉 1李静1

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第三十八研究所,合肥 230088
  • 折叠

摘要

关键词

导电胶/接触电阻/芯片粘接/背金

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张建,王道畅,金家富,董玉,李静..多芯片组件导电胶接触电阻增大案例分析[J].电子与封装,2022,22(6):39-41,3.

基金项目

国家磁约束核聚变能发展研究专项子课题金刚石微波窗多功能复合金属化及低温封接技术研究(2019YFE 03100100) (2019YFE 03100100)

电子与封装

1681-1070

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