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^(60)Co γ射线对增强型GaN HEMT直流特性的影响

邱一武 吴伟林 颜元凯 周昕杰 黄伟

电子与封装2022,Vol.22Issue(7):P.44-48,5.
电子与封装2022,Vol.22Issue(7):P.44-48,5.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0705

^(60)Co γ射线对增强型GaN HEMT直流特性的影响

邱一武 1吴伟林 1颜元凯 1周昕杰 1黄伟2

作者信息

  • 1. 中科芯集成电路有限公司,江苏无锡214072
  • 2. 复旦大学微电子学院,上海200443
  • 折叠

摘要

关键词

增强型GaN HEMT/^(60)Coγ射线辐照/直流特性测试/退火测试

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

邱一武,吴伟林,颜元凯,周昕杰,黄伟..^(60)Co γ射线对增强型GaN HEMT直流特性的影响[J].电子与封装,2022,22(7):P.44-48,5.

电子与封装

1681-1070

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