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片上SRAM物理不可克隆函数特性优化设计

高国平 赵维林

电子与封装2022,Vol.22Issue(7):P.25-28,4.
电子与封装2022,Vol.22Issue(7):P.25-28,4.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0702

片上SRAM物理不可克隆函数特性优化设计

高国平 1赵维林1

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214072
  • 折叠

摘要

关键词

静态随机存储器/物理不可克隆函数/上下电控制

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

高国平,赵维林..片上SRAM物理不可克隆函数特性优化设计[J].电子与封装,2022,22(7):P.25-28,4.

电子与封装

1681-1070

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