电子与封装2022，Vol.22Issue(7)：P.7-12,6.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0706
基于亿门级UltraScale+架构FPGA的单粒子效应测试方法
谢文虎 1郑天池 1季振凯 1杨茂林1
作者信息
- 1. 无锡中微亿芯有限公司,江苏无锡214072
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摘要
关键词
FinFET/SRAM型FPGA/单粒子效应/多位翻转/抗辐照测试分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
谢文虎,郑天池,季振凯,杨茂林..基于亿门级UltraScale+架构FPGA的单粒子效应测试方法[J].电子与封装,2022,22(7):P.7-12,6.
