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200 mm硅外延片时间雾的产生机理及管控方法研究

刘勇 仇光寅 邓雪华 杨帆 金龙

电子与封装2022,Vol.22Issue(7):P.49-52,4.
电子与封装2022,Vol.22Issue(7):P.49-52,4.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0708

200 mm硅外延片时间雾的产生机理及管控方法研究

刘勇 1仇光寅 1邓雪华 1杨帆 1金龙1

作者信息

  • 1. 南京国盛电子有限公司,南京211111
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摘要

关键词

硅外延/时间雾/环境阳离子/载片腔/氯化氢

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

刘勇,仇光寅,邓雪华,杨帆,金龙..200 mm硅外延片时间雾的产生机理及管控方法研究[J].电子与封装,2022,22(7):P.49-52,4.

电子与封装

1681-1070

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