电子与封装2022，Vol.22Issue(9)：55-59,5.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0908
用于FPGA的高效可测性设计
Efficient Testability Design for FPGA
陈波寅 1胡晓琛 1张智 1赵赛1
作者信息
- 1. 无锡中微亿芯有限公司,江苏无锡 214072
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摘要
关键词
FPGA/可测性设计/开关矩阵/PCIe/Tessent分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
陈波寅,胡晓琛,张智,赵赛..用于FPGA的高效可测性设计[J].电子与封装,2022,22(9):55-59,5.
