电子与封装2022，Vol.22Issue(10)：P.81-85,5.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.1006
基于加速寿命试验的磁耦隔离器耐压寿命评价方法
曹玉翠 1李泽田 2胡林江 1张峰1
作者信息
- 1. 中国科学院自动化研究所,北京100098
- 2. 中央军委装备发展部军事代表局驻北京地区第二军事代表室,北京100042
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摘要
关键词
磁耦隔离器/加速寿命试验/耐压寿命/可靠性分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
曹玉翠,李泽田,胡林江,张峰..基于加速寿命试验的磁耦隔离器耐压寿命评价方法[J].电子与封装,2022,22(10):P.81-85,5.
