| 注册
首页|期刊导航|电子与封装|FPGA刷新控制电路测试方法的研究

FPGA刷新控制电路测试方法的研究

晏慧强 黄晓彬 谢文虎

电子与封装2022,Vol.22Issue(11):P.13-18,6.
电子与封装2022,Vol.22Issue(11):P.13-18,6.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.1111

FPGA刷新控制电路测试方法的研究

晏慧强 1黄晓彬 1谢文虎1

作者信息

  • 1. 无锡中微亿芯有限公司,江苏无锡214072
  • 折叠

摘要

关键词

单粒子翻转/FPGA/刷新控制电路/辐照试验

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

晏慧强,黄晓彬,谢文虎..FPGA刷新控制电路测试方法的研究[J].电子与封装,2022,22(11):P.13-18,6.

电子与封装

1681-1070

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文