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4H-SiC基FinFET器件的单粒子瞬态效应研究

刘保军 杨晓阔 陈名华

电子与封装2022,Vol.22Issue(11):P.68-73,6.
电子与封装2022,Vol.22Issue(11):P.68-73,6.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.1108

4H-SiC基FinFET器件的单粒子瞬态效应研究

刘保军 1杨晓阔 2陈名华1

作者信息

  • 1. 空军工程大学航空机务士官学校,河南信阳464000
  • 2. 空军工程大学基础部,西安710051
  • 折叠

摘要

关键词

单粒子瞬态/Fin FET器件/4H-Si C/抗辐射

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

刘保军,杨晓阔,陈名华..4H-SiC基FinFET器件的单粒子瞬态效应研究[J].电子与封装,2022,22(11):P.68-73,6.

基金项目

国家自然科学基金(No.11975311,No.11405270)。 (No.11975311,No.11405270)

电子与封装

1681-1070

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