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塑封倒装焊焊点开裂分析及改善研究

朱国灵 季振凯 纪萍 徐小明

电子与封装2023,Vol.23Issue(2):23-26,4.
电子与封装2023,Vol.23Issue(2):23-26,4.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0011

塑封倒装焊焊点开裂分析及改善研究

Analysis and Improvement of Flip-Chip for Bump Crack in Plastic Packaging

朱国灵 1季振凯 1纪萍 1徐小明1

作者信息

  • 1. 无锡中微亿芯有限公司,江苏无锡214072
  • 折叠

摘要

关键词

焊点开裂/有限元分析/失效分析

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

朱国灵,季振凯,纪萍,徐小明..塑封倒装焊焊点开裂分析及改善研究[J].电子与封装,2023,23(2):23-26,4.

电子与封装

1681-1070

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