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Sn晶粒取向对微焊点元素迁移及界面反应的影响

白天越 乔媛媛 赵宁

电子与封装2023,Vol.23Issue(3):1-13,13.
电子与封装2023,Vol.23Issue(3):1-13,13.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0037

Sn晶粒取向对微焊点元素迁移及界面反应的影响

Influences of Sn Grain Orientation on Element Migration and Interfacial Reaction in Micro Solder Joints

白天越 1乔媛媛 1赵宁1

作者信息

  • 1. 大连理工大学材料科学与工程学院,辽宁大连116024
  • 折叠

摘要

关键词

电子封装/各向异性/晶粒取向/元素迁移/界面反应/数值模拟

分类

矿业与冶金

引用本文复制引用

白天越,乔媛媛,赵宁..Sn晶粒取向对微焊点元素迁移及界面反应的影响[J].电子与封装,2023,23(3):1-13,13.

基金项目

国家自然科学基金面上项目(52075072) (52075072)

电子与封装

1681-1070

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