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临时键合技术在晶圆级封装领域的研究进展

王方成 刘强 李金辉 叶振文 黄明起 张国平 孙蓉

电子与封装2023,Vol.23Issue(3):34-42,9.
电子与封装2023,Vol.23Issue(3):34-42,9.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0063

临时键合技术在晶圆级封装领域的研究进展

Research Progress of Temporary Bonding Technology in Wafer Level Packaging

王方成 1刘强 2李金辉 1叶振文 2黄明起 1张国平 2孙蓉3

作者信息

  • 1. 中国科学院深圳先进技术研究院,深圳518055
  • 2. 深圳先进电子材料国际创新研究院,深圳518103
  • 3. 深圳市化讯半导体材料有限公司,深圳518103
  • 折叠

摘要

关键词

临时键合/解键合/晶圆级封装

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王方成,刘强,李金辉,叶振文,黄明起,张国平,孙蓉..临时键合技术在晶圆级封装领域的研究进展[J].电子与封装,2023,23(3):34-42,9.

基金项目

国家自然科学基金(61904191 ()

62174170) ()

广东省重点领域研发计划(2020B010180001) (2020B010180001)

深圳市基础研究(JCYJ20210324115406019) (JCYJ20210324115406019)

电子与封装

1681-1070

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