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基于非线性维纳过程的电解电容剩余寿命预测

汪翔 李小波 吴浩 吴竑霖

电子元件与材料2023,Vol.42Issue(3):334-340,346,8.
电子元件与材料2023,Vol.42Issue(3):334-340,346,8.DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2023.1389

基于非线性维纳过程的电解电容剩余寿命预测

Residual life prediction of electrolytic capacitor based on nonlinear Wiener process

汪翔 1李小波 1吴浩 2吴竑霖1

作者信息

  • 1. 上海工程技术大学 城市轨道交通学院, 上海 201620
  • 2. 上海地铁电子科技有限公司, 上海 200233
  • 折叠

摘要

关键词

电解电容/维纳过程/剩余寿命/两步极大似然估计/遗传算法/贝叶斯公式

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

汪翔,李小波,吴浩,吴竑霖..基于非线性维纳过程的电解电容剩余寿命预测[J].电子元件与材料,2023,42(3):334-340,346,8.

基金项目

国家自然科学基金(51907117) (51907117)

电子元件与材料

OA北大核心CSTPCD

1001-2028

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