电子与封装2023，Vol.23Issue(6)：6-10,5.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0076
探卡对功率器件导通压降测试的影响
Influence of Probe Card on the Test of Conduction Voltage Drop of Power Devices
李乐乐 1肖海波 1张超 1王贤元 1潘昭海 1刘启军1
作者信息
- 1. 株洲中车时代电气股份有限公司,湖南株洲412000||株洲中车时代半导体有限公司,湖南株洲412000||功率半导体国家重点实验室,湖南株洲412000
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摘要
关键词
功率器件/导通压降/探卡/探针分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
李乐乐,肖海波,张超,王贤元,潘昭海,刘启军..探卡对功率器件导通压降测试的影响[J].电子与封装,2023,23(6):6-10,5.
