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DBC铜线键合工艺参数研究

王小钰 张茹 李海新

电子与封装2023,Vol.23Issue(6):27-33,7.
电子与封装2023,Vol.23Issue(6):27-33,7.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0079

DBC铜线键合工艺参数研究

Study on Bonding Parameters of Copper Wire on DBC Substrate

王小钰 1张茹 2李海新3

作者信息

  • 1. 烟台台芯电子科技有限公司,山东烟台260046||哈尔滨工程大学烟台研究院,山东烟台264000
  • 2. 烟台台芯电子科技有限公司,山东烟台260046
  • 3. 哈尔滨工程大学烟台研究院,山东烟台264000
  • 折叠

摘要

关键词

铜线/超声键合/楔形键合/正交试验

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王小钰,张茹,李海新..DBC铜线键合工艺参数研究[J].电子与封装,2023,23(6):27-33,7.

电子与封装

1681-1070

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