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28nm工艺触发器中能质子单粒子效应研究

高熠 陈瑶 吕伟 赵铭彤 王茂成

电子与封装2023,Vol.23Issue(6):72-75,4.
电子与封装2023,Vol.23Issue(6):72-75,4.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0059

28nm工艺触发器中能质子单粒子效应研究

Study on Single Event Effect of Intermediate Energy Proton in 28 nm Process Trigger

高熠 1陈瑶 1吕伟 2赵铭彤 2王茂成2

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214035
  • 2. 西北核技术研究所,西安710024
  • 折叠

摘要

关键词

辐射效应/单粒子翻转/中能质子/触发器

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

高熠,陈瑶,吕伟,赵铭彤,王茂成..28nm工艺触发器中能质子单粒子效应研究[J].电子与封装,2023,23(6):72-75,4.

电子与封装

1681-1070

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