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基于微纳科研平台工艺验证的微米级标准CMOS关键工艺仿真

王峥杰 徐丽萍 凌天宇 瞿敏妮 权雪玲 乌李瑛 程秀兰

电子与封装2023,Vol.23Issue(7):64-70,7.
电子与封装2023,Vol.23Issue(7):64-70,7.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0087

基于微纳科研平台工艺验证的微米级标准CMOS关键工艺仿真

Micron-Level Standard CMOS Key Process Simulation Based on Process Verification of Micro-Nano Scientific Research Platform

王峥杰 1徐丽萍 2凌天宇 2瞿敏妮 2权雪玲 2乌李瑛 2程秀兰1

作者信息

  • 1. 上海交通大学电子信息与电气工程学院,上海200240||上海交通大学先进电子材料与器件校级平台,上海200240
  • 2. 上海交通大学先进电子材料与器件校级平台,上海200240
  • 折叠

摘要

关键词

CMOS工艺/半导体器件/TCAD仿真

Key words

CMOS process/semiconductor device/TCAD simulation

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王峥杰,徐丽萍,凌天宇,瞿敏妮,权雪玲,乌李瑛,程秀兰..基于微纳科研平台工艺验证的微米级标准CMOS关键工艺仿真[J].电子与封装,2023,23(7):64-70,7.

电子与封装

1681-1070

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