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电子与封装
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基于MST-GAN的多尺度IC金属封装表面缺陷检测
基于MST-GAN的多尺度IC金属封装表面缺陷检测
蔡念
陈凯琼
黄林昕
夏皓
周帅
电子与封装
2023，Vol.23
Issue(7)：88,1.
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电子与封装
2023，Vol.23
Issue(7)
：88,1.
基于MST-GAN的多尺度IC金属封装表面缺陷检测
蔡念
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陈凯琼
1
黄林昕
1
夏皓
1
周帅
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蔡念,陈凯琼,黄林昕,夏皓,周帅..基于MST-GAN的多尺度IC金属封装表面缺陷检测[J].电子与封装,2023,23(7):88,1.
电子与封装
ISSN：
1681-1070
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