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纳米银焊膏贴装片式电阻的可靠性研究

王刘珏 顾林 郑利华 李居强

电子与封装2023,Vol.23Issue(8):24-29,6.
电子与封装2023,Vol.23Issue(8):24-29,6.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0104

纳米银焊膏贴装片式电阻的可靠性研究

Study on Reliability of Chip Resistor Mounted with Nano-Silver Solder Paste

王刘珏 1顾林 1郑利华 1李居强1

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214035
  • 折叠

摘要

关键词

纳米银焊膏/片式电阻/环境可靠性/显微组织/力学性能

Key words

nano-silver solder paste/chip resistor/environmental reliability/microstructure/mechanical properties

分类

矿业与冶金

引用本文复制引用

王刘珏,顾林,郑利华,李居强..纳米银焊膏贴装片式电阻的可靠性研究[J].电子与封装,2023,23(8):24-29,6.

基金项目

中国博士后科学基金(2022M712975) (2022M712975)

电子与封装

1681-1070

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