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共晶焊后热敏电阻的应力分析及优化

李长安 牛玉秀 全本庆 关卫林

电子与封装2023,Vol.23Issue(9):1-4,4.
电子与封装2023,Vol.23Issue(9):1-4,4.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0110

共晶焊后热敏电阻的应力分析及优化

Stress Analysis and Optimization of Thermistors After Eutectic Soldering

李长安 1牛玉秀 1全本庆 1关卫林1

作者信息

  • 1. 武汉光迅科技股份有限公司,武汉430205
  • 折叠

摘要

关键词

热敏电阻/共晶焊/应力/有限元分析法

Key words

thermistor/eutectic soldering/stress/finite element analysis method

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

李长安,牛玉秀,全本庆,关卫林..共晶焊后热敏电阻的应力分析及优化[J].电子与封装,2023,23(9):1-4,4.

电子与封装

1681-1070

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