首页|期刊导航|电子与封装|用于GaN半桥驱动的高可靠欠压锁定电路

用于GaN半桥驱动的高可靠欠压锁定电路

李亮周德金黄伟陈珍海

电子与封装2023，Vol.23Issue(9)：41-44,4.

电子与封装2023，Vol.23Issue(9)：41-44,4.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0126

High-Reliable Undervoltage Lockout Circuit for GaN Half-Bridge Driver

李亮 ¹周德金 ²黄伟 ³陈珍海⁴

作者信息

半桥电路/欠压锁定/比较器/毛刺检测

half-bridge circuit/undervoltage lockout/comparator/burr detection

信息技术与安全科学

李亮,周德金,黄伟,陈珍海..用于GaN半桥驱动的高可靠欠压锁定电路[J].电子与封装,2023,23(9):41-44,4.

智能微系统安徽省工程技术研究中心开放项目(MSZXXM2001) （MSZXXM2001）

苏州市科技计划(SZS2022015) （SZS2022015）

ISSN：1681-1070

访问量0

下载量0

段落导航