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基于立体视觉的IGBT针高检测

田文超 田明方 庄章龙 赵静榕

电子与封装2023,Vol.23Issue(10):36-42,7.
电子与封装2023,Vol.23Issue(10):36-42,7.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0136

基于立体视觉的IGBT针高检测

Height Inspection of IGBT Pins Based on Stereovision

田文超 1田明方 2庄章龙 3赵静榕3

作者信息

  • 1. 西安电子科技大学机电工程学院,西安 710068||西安电子科技大学杭州研究院,杭州 310018
  • 2. 西安电子科技大学杭州研究院,杭州 310018
  • 3. 上海轩田工业设备有限公司,上海 201109
  • 折叠

摘要

关键词

双线激光传感器/分区域点云采集/平面拟合去噪/针高度测量/立体视觉

Key words

dual-line laser sensors/sub-area point cloud acquisition/planar fitting denoising/pin-height measurement/stereovision

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

田文超,田明方,庄章龙,赵静榕..基于立体视觉的IGBT针高检测[J].电子与封装,2023,23(10):36-42,7.

电子与封装

1681-1070

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