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基于陶瓷衬底的薄膜再布线工艺及组装可靠性研究

朱喆 黄陈欢 李林森 刘俊夫

电子与封装2023,Vol.23Issue(10):52-57,6.
电子与封装2023,Vol.23Issue(10):52-57,6.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0167

基于陶瓷衬底的薄膜再布线工艺及组装可靠性研究

Thin Film Rerouting Process and Assembly Reliability Study Based on Ceramic Substrate

朱喆 1黄陈欢 2李林森 3刘俊夫1

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第四十三研究所微系统安徽省重点实验室,合肥 230088||中国电子科技集团公司第四十三研究所,合肥 230088
  • 2. 中国电子科技集团公司第四十三研究所,合肥 230088
  • 3. 中国电子科技集团公司第四十三研究所微系统安徽省重点实验室,合肥 230088
  • 折叠

摘要

关键词

薄膜工艺/再布线层/可组装性

Key words

thin film technology/rerouting layer/assemblability

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

朱喆,黄陈欢,李林森,刘俊夫..基于陶瓷衬底的薄膜再布线工艺及组装可靠性研究[J].电子与封装,2023,23(10):52-57,6.

电子与封装

1681-1070

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