电子与封装2023，Vol.23Issue(11)：12-17,6.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0164
基于ATE的千兆以太网收发器芯片测试方法
Gigabit Ethernet Transceiver Chip Testing Method Based on ATE
谢凌峰 1武新郑 1王建超1
作者信息
- 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡 214035
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摘要
关键词
千兆以太网收发器芯片/寄存器读写测试/回环测试/ATEKey words
Gigabit Ethernet transceiver chip/register read/write test/loopback test/ATE分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
谢凌峰,武新郑,王建超..基于ATE的千兆以太网收发器芯片测试方法[J].电子与封装,2023,23(11):12-17,6.
