电子与封装2023，Vol.23Issue(11)：18-24,7.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0168
基于内建自测试电路的NAND Flash测试方法
NAND Flash Test Method Based on Built-In Self-Test Circuit
解维坤 1白月芃 2季伟伟 3王厚军4
作者信息
- 1. 电子科技大学自动化学院,成都 610097||中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡 214035
- 2. 电子科技大学深圳高等研究院,深圳 518110
- 3. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡 214035
- 4. 电子科技大学自动化学院,成都 610097
- 折叠
摘要
关键词
NAND Flash/存储器内建自测试/March-like/Flash故障类型Key words
NAND Flash/memory built-in self-test/March-like/Flash fault type分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
解维坤,白月芃,季伟伟,王厚军..基于内建自测试电路的NAND Flash测试方法[J].电子与封装,2023,23(11):18-24,7.
