电子与封装2023，Vol.23Issue(11)：25-31,7.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0163
GaN HEMT热阻测试技术研究
Research on Thermal Resistance Testing Technology of GaN HEMT
邱金朋 1沈竞宇1
作者信息
- 1. 华润微电子(重庆)有限公司,重庆 404100
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摘要
关键词
GaN/导通电阻/结温/热阻Key words
GaN/on-resistance/junction temperature/thermal resistance分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
邱金朋,沈竞宇..GaN HEMT热阻测试技术研究[J].电子与封装,2023,23(11):25-31,7.
