| 注册
首页|期刊导航|电子与封装|基于16 nm FinFET工艺FPGA的低功耗PCIe Gen3性能研究

基于16 nm FinFET工艺FPGA的低功耗PCIe Gen3性能研究

季振凯 杨茂林 于治

电子与封装2023,Vol.23Issue(11):54-61,8.
电子与封装2023,Vol.23Issue(11):54-61,8.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0148

基于16 nm FinFET工艺FPGA的低功耗PCIe Gen3性能研究

Research on Low-Power PCIe Gen3 Performance Based on 16 nm FinFET Process FPGA

季振凯 1杨茂林 1于治1

作者信息

  • 1. 无锡中微亿芯有限公司,江苏无锡 214072
  • 折叠

摘要

关键词

FinFET/SRAM 型 FPGA/PCIe Gen3/低功耗

Key words

FinFET/SRAM FPGA/PCIe Gen3/low-power consumption

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

季振凯,杨茂林,于治..基于16 nm FinFET工艺FPGA的低功耗PCIe Gen3性能研究[J].电子与封装,2023,23(11):54-61,8.

电子与封装

1681-1070

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文