电子与封装2024，Vol.24Issue(3)：P.82-86,5.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2024.0033
OLED掩模版Mura缺陷分析与改善
束名扬 1张玉星 1袁卓颖1
作者信息
- 1. 中国电子科技集团公司第五十五研究所,南京211000
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摘要
关键词
Mura/OLED/掩模版/显影分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
束名扬,张玉星,袁卓颖..OLED掩模版Mura缺陷分析与改善[J].电子与封装,2024,24(3):P.82-86,5.
