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先进制程芯片失效定位技术现状及发展

李振远 徐昊 贾沛 万永康 张凯虹 孟智超

电子与封装2024,Vol.24Issue(4):P.75-84,10.
电子与封装2024,Vol.24Issue(4):P.75-84,10.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2024.0041

先进制程芯片失效定位技术现状及发展

李振远 1徐昊 1贾沛 1万永康 1张凯虹 2孟智超1

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214035
  • 2. 无锡中微腾芯电子有限公司,江苏无锡214035
  • 折叠

摘要

关键词

失效分析/先进制程芯片/电子失效定位/光学失效定位

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

李振远,徐昊,贾沛,万永康,张凯虹,孟智超..先进制程芯片失效定位技术现状及发展[J].电子与封装,2024,24(4):P.75-84,10.

基金项目

科技部重点研发计划(2018YFB2202900)。 (2018YFB2202900)

电子与封装

1681-1070

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