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Cu核微焊点液-固界面反应及剪切行为研究

钱帅丞 陈湜 乔媛媛 赵宁

电子元件与材料2024,Vol.43Issue(3):P.367-373,7.
电子元件与材料2024,Vol.43Issue(3):P.367-373,7.DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2024.1298

Cu核微焊点液-固界面反应及剪切行为研究

钱帅丞 1陈湜 1乔媛媛 1赵宁1

作者信息

  • 1. 大连理工大学材料科学与工程学院,辽宁大连116024
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摘要

关键词

电子封装/Cu核焊球/液-固界面反应/金属间化合物/剪切强度

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

钱帅丞,陈湜,乔媛媛,赵宁..Cu核微焊点液-固界面反应及剪切行为研究[J].电子元件与材料,2024,43(3):P.367-373,7.

基金项目

国家自然科学基金(52075072) (52075072)

山东省重点研发计划(重大科技创新工程)(2022CXGC020408) (重大科技创新工程)

辽宁省应用基础研究计划项目(2023JH2/101300181)。 (2023JH2/101300181)

电子元件与材料

OA北大核心CSTPCD

1001-2028

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