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电子式漏电断路器分段寿命预测方法研究

石颉 孔令崧 孙浩 胡立新

电子元件与材料2024,Vol.43Issue(4):P.497-504,8.
电子元件与材料2024,Vol.43Issue(4):P.497-504,8.DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2024.1148

电子式漏电断路器分段寿命预测方法研究

石颉 1孔令崧 1孙浩 1胡立新1

作者信息

  • 1. 苏州科技大学电子与信息工程学院,江苏苏州215009
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摘要

关键词

漏电断路器/加速老化实验/寿命预测/表观活化能

分类

信息技术与安全科学

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石颉,孔令崧,孙浩,胡立新..电子式漏电断路器分段寿命预测方法研究[J].电子元件与材料,2024,43(4):P.497-504,8.

电子元件与材料

OA北大核心CSTPCD

1001-2028

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