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击穿法降低3D电子封装侧壁布线接触电阻的研究

奚锐 王旭 王心语 董显平 李明

电子元件与材料2024,Vol.43Issue(8):P.980-987,8.
电子元件与材料2024,Vol.43Issue(8):P.980-987,8.DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2024.1589

击穿法降低3D电子封装侧壁布线接触电阻的研究

奚锐 1王旭 2王心语 2董显平 1李明1

作者信息

  • 1. 上海交通大学材料科学与工程学院,上海200240
  • 2. 晟碟信息科技有限公司,上海200241
  • 折叠

摘要

关键词

3D封装/侧壁布线/互连界面/铜氧化膜/接触电阻/击穿

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

奚锐,王旭,王心语,董显平,李明..击穿法降低3D电子封装侧壁布线接触电阻的研究[J].电子元件与材料,2024,43(8):P.980-987,8.

电子元件与材料

OA北大核心CSTPCD

1001-2028

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