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自动贴片工艺可靠性研究

钟贵朝 蒋苗苗 赵明 韩英 张坤 高胜寒

电子与封装2024,Vol.24Issue(10):P.27-30,4.
电子与封装2024,Vol.24Issue(10):P.27-30,4.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2024.0135

自动贴片工艺可靠性研究

钟贵朝 1蒋苗苗 1赵明 1韩英 1张坤 1高胜寒1

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第二十九研究所,成都610036
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摘要

关键词

组装技术/贴片压力/导电胶溢胶/黏接强度

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

钟贵朝,蒋苗苗,赵明,韩英,张坤,高胜寒..自动贴片工艺可靠性研究[J].电子与封装,2024,24(10):P.27-30,4.

电子与封装

1681-1070

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