电子与封装2024，Vol.24Issue(10)：P.51-59,9.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2024.0146
基于ATE的可编程SiP器件测试
李鹏 1白艳放 1郑松海 1赵娜 1刘颖1
作者信息
- 1. 西安现代控制技术研究所,西安710065
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摘要
关键词
SiP/测试板设计/测试平台/测试数据分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
李鹏,白艳放,郑松海,赵娜,刘颖..基于ATE的可编程SiP器件测试[J].电子与封装,2024,24(10):P.51-59,9.
