形成液温度对高比容钽粉研制的钽电容器电性能的影响OA北大核心CSTPCD

片式固体电解质钽电容器的小型化、大容量发展趋势促进了高比容钽粉应用于低压大容量钽电容器。Ta_(2)O_(5)介质氧化膜是钽电容器的“心脏”,其生长质量决定了电容器的稳定性和可靠性。形成液温度是阳极氧化过程中的关键工艺参数之一,对Ta_(2)O_(5)介质氧化膜的质量有重要影响。以高比容钽粉制备的CAK45A-B-10 V/100μF片式固体电解质钽电容器为研究对象,通过漏电流测试、I-V特性、高温稳定性及85℃-2000 h寿命试验,研究了在磷酸体系溶液中,形成液温度对高比容钽粉研制的钽电容器电性能的影响。研究结果表明:形成液温度从65℃提升至85℃,形成后漏电流均值降低约39%;高温容量稳定性及漏电流稳定性增强;钽电容器寿命试验后的漏电流变化率由-17%降低至-60%。